表面・界面の考え方と分析の基礎、 および実践応用テクニック、ノウハウ
表面・界面の考え方と分析の基礎、
および実践応用テクニック、ノウハウ
接触角測定法 / X線光電子分光法(XPS,ESCA) / オージェ電子分光法(AES) / X線マイクロアナライザ(EPMA)
二次イオン質量分析法(SIMS) / フーリエ変換赤外分光法(FT-IR) / グロー放電分析(GD)
走査電子顕微鏡(SEM)、透過電子顕微鏡(TEM) / 走査型プローブ顕微鏡(SPM)
セミナーの特徴
実践的な分析手法
XPS、AES、SIMS、FT-IRなど、現場で実際に使用される多様な表面分析手法を網羅的に学習できます。
事例を交えた解説
実際の解析例を用いて、表面分析・界面分析の実務について詳しく解説します。
少人数制（定員15名）
セミナーの円滑な進行のため、定員を15名に限定し、質の高い学習環境を提供します。
オンライン受講可能
ZoomによるLive配信で、全国どこからでも受講可能です。
セミナー概要
「悪魔がつくった」なんて言われるほど複雑・難解な”表面・界面”を適切に分析・評価するのは一筋縄ではいかないもの。
表面・界面に対する考え方や分析手法の紹介から実践的なテクニック・ノウハウ、アプローチ法まで、事例を交えて解説します。
対象者
想定受講者
- ✓ 若手から中堅を中心とした担当者
- ✓ 部署マネジメント、部下を育成・教育する管理者、マネージャー
習得できる知識
- ✓ 表面分析の考え方と活用法
- ✓ 各種表面分析手法の使い方
- ✓ 表面、界面の可視化法
- ✓ 研究開発、問題解決へのフィードバック
講師紹介
表面・界面分析分野における豊富な実務経験と深い専門知識を持つエキスパート講師が、実践的なノウハウとテクニックを直接指導いたします。
専門分野
- ✓ X線光電子分光法（XPS，ESCA）の解析技術
- ✓ オージェ電子分光法（AES）の実践応用
- ✓ 二次イオン質量分析法（SIMS）の最新手法
- ✓ 表面・界面の構造解析と評価
- ✓ 材料表面の化学状態分析
指導実績
- ✓ 多数の企業研修・技術セミナーでの講演実績
- ✓ 表面分析技術者の育成・指導経験豊富
- ✓ 実践的な問題解決アプローチの指導
- ✓ 最新分析技術の動向と応用事例の解説
講師からのメッセージ
「表面・界面分析は確かに複雑で難解な分野ですが、基本的な考え方と実践的なアプローチを身につければ、必ず習得できます。
本セミナーでは、私の長年の経験から得られた実践的なテクニックとノウハウを、分かりやすく体系的にお伝えします。
皆様の研究開発や品質管理業務に直接役立つ知識を持ち帰っていただけるよう、全力でサポートいたします。」
講演内容
1. 表面・界面の基礎理論
- 表面に支配される現代社会
- 表面とは何か？その定義と重要性
- 界面とは何か？界面における現象
- 表面・界面を支配する要因
- 表面分析成功のキーポイント
- サンプルの取り扱い方法
2. 主要分析手法の原理と実践
- 代表的表面分析手法の分類
- 接触角測定法
- X線光電子分光法（XPS，ESCA）
- オージェ電子分光法（AES）
- X線マイクロアナライザ（EPMA）
- 二次イオン質量分析法（SIMS）
- フーリエ変換赤外分光法（FT-IR）
- グロー放電分析（GD）
3. 形態観察技術
- 走査電子顕微鏡（SEM）の活用
- 透過電子顕微鏡（TEM）の応用
- 走査型プローブ顕微鏡（SPM）
- 表面形状と組成の解析
- SEM-EDS組成分析
- 位相イメージング技術
4. 界面分析の実践と応用
- 界面評価の重要性と課題
- 界面分析における問題点
- 新しいアプローチ方法
- 解析の実例紹介
- UV照射による化学構造評価
- 表面構造変化の解析（XPS）
- 気相化学修飾法
- 化学修飾法を用いたTOFイメージング
- ポリイミドの表面処理層分析
- PI/Cu/Si界面の解析
受講料金
一般受講料
E-Mail案内登録価格
テレワーク応援キャンペーン
※申込みフォームで【テレワーク応援キャンペーン】を選択
配布資料
製本テキスト（開催前日着までを目安に発送）
セミナー受講特典
特別コンサルティング
セミナーを受講して名刺交換等をさせて頂いた方への特典サービスとして、初回限定で特別料金にてコンサルティングをご利用いただけます。
対象内容
- ✓ セミナー内容に関する相談
- ✓ 技術的な課題解決
- ✓ 分析手法の選択相談
利用条件
- ✓ 初回1回のみ
- ✓ セミナー実施日より3カ月以内
- ✓ 定額の限定特別料金
お問い合わせ
株式会社イーコンプレス 丁田
〒630-0244 奈良県生駒市東松ヶ丘1-2 奥田第一ビル102
