【オンデマンド配信】 半導体テスト技術の基礎と動向
半導体テスト技術の
基礎と動向
品質、信頼性、セキュリティ、コスト、歩留まり etc.
生成AI時代の半導体・電子機器を支える基盤技術を学ぶ
※充実の4時間25分の映像講義
セミナー概要
2026年1月29日（木）23:59まで申込み受付中
※E-Mail案内登録価格: 52,250円
マイページよりダウンロード
講師メールアドレス掲載あり
半導体テスト技術の重要性
ChatGPTやGemini等の生成AIが広く普及するとともに、その処理に要する計算能力を供給する半導体の需要は非常に高まっています。また、電気自動車やスマートシティなどでも電子システムが中心的な役割を担っています。
さらに、半導体はデジタル変革(DX)のキーデバイスともなっており、半導体集積回路やそれを使用する電子機器の品質、信頼性及びセキュリティは益々重要となっています。
このような背景のもと、これらの重要な要件を支える基盤技術として、半導体テスト技術に対する注目が高まっています。
セミナーのポイント
基礎から学べる
半導体テストに関する基礎知識から、論理回路テストに関する一般知識まで、予備知識がなくても理解できる構成
実践的な内容
テスト生成技術、故障モデル、テスト容易化設計技術など、実務に直結する技術を詳細に解説
最新技術動向
AI応用によるテスト品質向上・コスト削減・歩留り向上、テストとセキュリティの最新動向を網羅
品質とコストの両立
テスト品質とテストコストを両立させるポイントを、AI用等の半導体で重要となる理論回路テスト技術を含めて詳説
講師紹介
畠山 一実 氏
株式会社EVALUTO 講師・技術コンサルタント 工学博士
専門: テスト設計技術、高信頼化技術
経歴:
- 1982年 京都大学大学院博士後期課程修了（工学博士）
- (株)日立製作所、(株)ルネサステクノロジ、(株)半導体理工学研究センター、奈良先端科学技術大学院大学にてテスト設計技術等の研究開発に従事
- 群馬大学にてテスト設計技術に関する研究に協力
- 日本大学等にて非常勤講師を担当
得られる知識
半導体テストの基礎知識
テストの種類、意義、テスト装置など、半導体テストの全体像を理解できます
論理回路テストの一般知識
故障モデル、テスト生成アルゴリズム、テスト容易化設計技術を体系的に学べます
テスト技術の最新動向
AI応用、セキュリティ対策など、最新のテスト技術トレンドを把握できます
品質とコストの最適化
テスト品質とテストコストのバランスを取る実践的な手法を習得できます
こんな方におすすめ
半導体の設計や製造に関わる方
電子機器の開発に関わる方
半導体テスト技術を学びたい方
品質管理・信頼性に携わる方
※論理回路の基礎知識があればより理解が深まりますが、予備知識は不要です
プログラム内容
１．半導体のテストについて
- 半導体のライフサイクルにおけるテストとその意義
- テストの種類とテスト装置
- テストコストについて
- テスト品質について
２．テスト設計技術
- 2.1 テスト生成技術
- 故障モデル
- 故障シミュレーション
- テスト生成アルゴリズム
- 2.2 テスト容易化設計技術
- スキャン設計
- 組込み自己テスト
３．最新テスト技術動向
- 3.1 高品質テスト技術
- 故障モデルの高度化
- アナログテストの高品質化
- 3.2 テストへのAI応用
- AI応用による品質向上
- AI応用によるコスト削減
- AI応用による歩留り向上
- 3.3 テストとセキュリティ
- 回路の難読化
- 偽造ICへの対策
４．まとめ
キーワード
テスト
設計
品質
コスト
信頼性
セキュリティ
AI
技術動向
お問い合わせ
株式会社イーコンプレス 丁田
〒630-0244 奈良県生駒市東松ヶ丘1-2 奥田第一ビル102
