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≪有機物を中心とした≫ 二次イオン質量分析(SIMS/TOF-SIMS/OrbiSIMS)の基礎と 分析の進め方および機械学習によるデータ解析






二次イオン質量分析(SIMS)の基礎と機械学習によるデータ解析

2026年3月18日(水)開催

≪有機物を中心とした≫

二次イオン質量分析
(SIMS/TOF-SIMS/OrbiSIMS)の基礎と
分析の進め方および機械学習によるデータ解析

TOF-SIMS/OrbiSIMSの特徴、応用例、SIMSデータへの機械学習の応用など

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セミナー概要

【主な内容】

🔬

二次イオン質量分析法の原理や装置といった基礎

⚙️

TOF-SIMS/OrbiSIMSの特徴

🧪

高分子・細胞・複合材料などの有機物を対象とした分析

📊

装置の選定、目的に合わせた分析の進め方、測定の実際

🔍

TOF-SIMSの応用例:有機物・高分子・バイオ材料・生物試料等

🤖

SIMSデータへの機械学習の応用

セミナーの趣旨

本講演では、有機物(細胞、高分子から有機無機複合体まで含む)を対象とした分析において、どのタイプの装置を選ぶとどのような情報が得られるか、また求める情報に対してどのような分析の進め方があるか、事例を示しながら紹介します。

また、スペクトルとイメージを含むSIMSデータに機械学習を応用するにあたって、データ変換方法から、求める情報に応じた機械学習手法の応用例を紹介します。

📅

開催日時

2026年3月18日(水)
13:00~16:30

💻

開催形式

オンライン配信
ZoomによるLive配信

📄

配布資料

PDFテキスト
(印刷可・編集不可)

🎥

アーカイブ配信

3/19~3/25中
見逃し配信あり

講師紹介

庄子 習一 氏

成蹊大学 理工学部 物質生命理工学科 教授
博士(工学)

専門分野

表面科学
二次イオン質量分析法
多変量解析
機械学習
生物物理学

経歴

  • 1995年 早稲田大学理工学部応用化学科 卒業
  • 1997年 早稲田大学大学院修士課程 修了
  • P&G Far East Inc.にて微生物研究に従事
  • 2001年 早稲田大学理工学部 助手
  • 2002年 早稲田大学大学院理工学研究科 博士後期課程修了、博士号(工学)取得(バイオセンサ開発)
  • 2002年 成蹊大学理工学部 助手、TOF-SIMSデータ解析開始
  • 2005年 島根大学生物資源科学部 助教授/准教授
  • 2014年 成蹊大学理工学部 准教授
  • 2017年 成蹊大学理工学部 教授(現職)
  • 2024年度~ ISO TC201 SC6 (Mass Spectrometries) 国際議長

TOF-SIMSデータ解析の第一人者として、表面分析と機械学習を融合した先進的な研究を展開。ISO国際議長として国際標準化にも貢献。バイオセンサ開発から表面科学まで、幅広い分野での実績を持つ。

こんな方におすすめ

01

表面分析・化学イメージングを利用している方

もしくはこれから利用する方

02

計測データへの機械学習の応用について学びたい方

データ解析手法を習得したい方

得られる知識

📊

SIMSデータ構造の理解

スペクトルとイメージを併せ持つSIMSデータの基本構造を理解できます

🤖

機械学習法の基礎

教師なしおよび教師あり機械学習法の基礎知識とSIMSデータへの応用例を習得

🔬

実践的な分析手法

試料準備、測定条件の決定、測定時の注意点、データの扱い方を実践的に学習

プログラム内容

1. 二次イオン質量分析(SIMS)の基礎

1.1 SIMSの原理と一次イオン源

  • 1.1.1 飛行時間型二次イオン質量分析法(ToF-SIMS)
  • 1.1.2 一次イオン源 Biクラスターとガスクラスターイオンビーム

1.2 SIMSのデータの構造

スペクトルとイメージ

  • 1.2.1 質量スペクトル
  • 1.2.2 2次元イメージング
  • 1.2.3 深さ方向分析と3次元イメージング

1.3 最近のToF-SIMSの周辺

MSMS、オービトラップ、レーザーイオン化(レーザーSNMS)

1.4 測定の実際

試料準備、測定条件の決定、測定時の注意点、測定後のデータの扱いなど

2. ToF-SIMSの応用例

2.1 有機物・高分子

有機材料の表面分析と構造解析

2.2 バイオ材料・生物試料

細胞、組織、生体材料の分析

2.3 その他の材料

有機無機複合材料・無機物・電池材料・半導体など

3. SIMSデータへの機械学習の応用

3.1

機械学習とは

基本概念と分析への適用

3.2

機械学習に向けた計測データの変換

データ前処理と特徴量抽出

3.3

教師なし学習法による特徴抽出

クラスタリング、次元削減手法の応用

3.4

教師あり学習法による未知物質同定と定量分析

分類・回帰モデルの構築と評価

3.5

複数測定手法データ(マルチモーダルデータ)の構築方法と機械学習の応用

統合データ解析の実践

□ 質疑応答 □

受講料

通常価格

49,500円(税込)

本体45,000円+税4,500円

特別割引

複数名割引

2名同時申込:49,500円

(2名ともE-Mail案内登録必須/1名あたり24,750円)

3名同時申込:74,250円

(3名ともE-Mail案内登録必須)

※4名以上の場合も1名あたり24,750円で受講できます

テレワーク応援価格

1名様の場合

39,600円(税込)

定価:本体36,000円+税3,600円

E-Mail案内登録:37,840円

本体34,400円+税3,440円

SIMSと機械学習を融合した
最先端のデータ解析手法を学ぶ

ISO国際議長による実践的な表面分析セミナー

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※アーカイブ視聴で復習も可能です

お問い合わせ

株式会社イーコンプレス

担当:丁田

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