セミナー概要

二次イオン質量分析法（SIMS）の基礎から、有機物を対象とした分析の進め方、TOF-SIMS/OrbiSIMSの特徴と応用例、さらに機械学習によるSIMSデータ解析までを体系的に解説します。装置の選定や目的に合わせた分析の進め方、測定の実際を事例を示しながら紹介します。

こんな方におすすめ

• 分析化学、表面分析、質量分析の基礎知識を持つ方
• 表面分析・化学イメージングの利用経験者またはこれから利用する方
• 計測データへの機械学習応用に関心のある方
• 高分子・バイオ材料・電池材料等の表面分析に携わる方

プログラム

1. SIMSの特徴
   SIMSの原理と一次イオン源、飛行時間型二次イオン質量分析法（ToF-SIMS）、Biクラスターとガスクラスターイオンビーム
2. SIMSのデータ構造
   質量スペクトル、2次元イメージング、深さ方向分析と3次元イメージング
3. 最近のToF-SIMSの周辺
   MSMS、オービトラップ、レーザーイオン化（レーザーSNMS）
4. 測定の実際
   試料準備、測定条件の決定、測定時の注意点、測定後のデータの扱い
5. ToF-SIMSの応用例
   有機物・高分子、バイオ材料・生物試料、有機無機複合材料・電池材料・半導体など
6. SIMSデータへの機械学習の応用
   データ変換、教師なし学習による特徴抽出、教師あり学習による未知物質同定と定量分析、マルチモーダルデータの構築と応用

講師

青柳 里果 氏
成蹊大学 理工学部 教授 博士（工学）
専門：表面科学、二次イオン質量分析法、多変量解析、機械学習

開催情報

開催日時

2026年3月13日（金）13:00～16:30

形式

ライブ配信（Zoom）＋アーカイブ配信

アーカイブ

2026年3月16日～3月22日

受講料

49,500円（税込）※2名同時申込で1名無料

主催

サイエンス＆テクノロジー

配布資料

PDFデータ（印刷可・編集不可）