TOF-SIMSの基礎と応用
TOF-SIMSの基礎と応用
飛行時間型二次イオン質量分析の原理から応用まで完全マスター
有機物と無機微量元素を同時分析できるユニークな表面分析法。
最新のクラスターイオンビーム技術による有機深さ方向分析の最新技術を学びます。
2026年3月26日（木）13:00～16:30
ライブ配信（Zoom）/ アーカイブ配信
49,500円（税込）
セミナー概要
このセミナーの特徴
- TOF-SIMS法の基本原理から最新技術まで体系的に学習
- 実践的な測定条件選定と試料ハンドリング
- データ解析の注意点と分析失敗事例からの学び
- 他の表面分析手法との組み合わせ方
- 業界専門家による直接指導
対象者
- TOF-SIMS装置を使用する技術者・研究者
- TOF-SIMSデータを解釈する必要がある方
- 材料開発に従事する技術者
- 表面分析による解析を立案する必要がある方
- 新たに表面分析分野に進出する企業の担当者
講師紹介
眞田 則明（さなだ のりあき） 氏
アルバック・ファイ（株） 分析技術顧問 理学博士
経歴
- 化学会社分析部門にて分析技術を研鑽
- 静岡大学助手として表面分析の研究に従事
- アルバック・ファイ社に勤務し、表面分析の応用研究を推進
- 2015年～現在 Journal of Surface Analysis 編集委員長
専門分野： 表面分析、二次イオン質量分析（SIMS）、TOF-SIMS応用
セミナープログラム（3時間30分）
表面分析法とは
- 表面・界面の重要性
- 各種表面分析法の特徴比較
- 他の表面分析手法との比較検討
TOF-SIMS法の原理と特徴
- 二次イオン質量分析（SIMS）の原理
- 質量分析器の比較検討
- 飛行時間型質量分析（TOF-SIMS）法の原理
- TOF-SIMSが最表面分析手法となる理由
- 一次イオン源の特性
- イメージング分析と「あとから解析（Retrospective Analysis）」
TOF-SIMS試料のサンプリングとハンドリング
- 測定可能な試料とその形状
- 試料のハンドリングとサンプリング方法
- 粉末試料の測定
- 絶縁試料への対応方法
TOF-SIMS測定と解析の実際
- TOF-SIMSの測定モード
- スペクトル測定と解析方法
- 正イオンスペクトルと負イオンスペクトル
- マスピークの同定方法
- データベースを利用した化合物同定
- MS/MSの新しい技術応用
深さ方向分析
- スパッタイオン源の選択方法
- 無機試料の深さ方向分析
- 単原子イオンとクラスターイオン
- クラスターイオンエッチングの原理と特徴
- 有機試料の深さ方向分析
- 深さ方向分析の特徴と注意点
最新のTOF-SIMS分析例
- 表面性状の分析事例
- 材料表面微小異物の分析
- 電極材料分析の実例
- 高分子材料の分析
- 医薬品有効成分の分析
- 生体試料の分析応用
よくある質問と解決策
- 高加速電圧（高エネルギー）を用いる理由
- 一次イオンビームと試料の反応考察
- 無機物を含む試料のクラスターイオン分析効果
- 失敗から成功へと導いた実践的な分析事例
まとめ・質疑応答
本セミナーの重要なポイント整理と、参加者との質疑応答時間
このセミナーで得られる知識
飛行時間型二次イオン質量分析法（TOF-SIMS）の基本原理
TOF-SIMS分析の実践的な進め方と測定条件の選定
データ解析時の重要な注意点と落とし穴
各種表面分析法との特徴比較と最適な組み合わせ方
試料ハンドリングと前処理の重要なポイント
最新の分析技術とクラスターイオンビームの活用方法
実際の業界適用事例の詳細と応用戦略
分析失敗から成功へと導く実践的なノウハウ
受講料と割引特典
料金一覧
定価
49,500円
本体45,000円 + 税4,500円
E-Mail案内登録による割引
2名同時申込み（2名ともE-Mail案内登録必須）
49,500円
1名あたり24,750円
3名同時申込み（3名ともE-Mail案内登録必須）
74,250円
1名あたり24,750円
※4名以上の場合は1名追加ごとに24,750円を加算
テレワーク応援キャンペーン（1名受講）
2月1日以降の申込み
通常料金
39,600円
本体36,000円 + 税3,600円
E-Mail案内登録価格
37,840円
本体34,400円 + 税3,440円
※オンライン配信セミナー受講限定
割引適用条件
- E-Mail案内登録割引： セミナー主催者のE-Mail案内に登録いただく必要があります
- グループ割引： 2名以上同時申込みの場合、全員E-Mail案内登録が必須です
- テレワーク応援キャンペーン： オンライン配信セミナー（ライブ配信またはアーカイブ配信）のご受講が対象です
- 割引併用不可： 各割引は併用できません。最もお得な割引が自動適用されます
受講形式について
ライブ配信（Zoom）
開催日時：2026年3月26日（木）13:00～16:30
- リアルタイムで講師に質問が可能
- 他の参加者との交流機会
- 開催2日前を目安にPDFデータをダウンロード可
- 録画（配信）のご視聴はできません
アーカイブ配信
受付期限：2026年4月10日（金）
視聴期間：4月10日～4月23日
- ご都合の良い時間に何度でも視聴可能
- 一時停止・巻き戻し・倍速再生が可能
- 配信開始日からPDFデータをダウンロード可
- リアルタイムでの質問はできません
配布資料
PDFデータ形式（印刷可・編集不可）
※ライブ配信受講：開催2日前を目安にダウンロード可
※アーカイブ配信受講：配信開始日からダウンロード可
技術要件
受講前に受講方法・接続確認をご確認ください。
Zoomを使用したオンライン配信となります。
セミナー受講に関する注意事項
- 講義中の録音・撮影はご遠慮ください
- 開催日の概ね1週間前を目安に、最少催行人数に達していない場合、セミナーを中止することがございます
- ライブ配信は開催日時に配信いたします。見逃された場合、アーカイブ配信のご受講をお勧めします
- アーカイブ配信の視聴期間は限定されていますため、お早めにご視聴ください
- システムトラブル等の場合を除き、お申込み後のキャンセルに応じられません
セミナーにお申し込みください
TOF-SIMS分析の基礎から最新技術までを、業界の専門家から学ぶ機会です。
表面分析の知識を深めたい方、データ解析のスキルを向上させたい方は、ぜひご参加ください。
お問い合わせ
株式会社イーコンプレス
担当：丁田
〒630-0244
奈良県生駒市東松ヶ丘1-2 奥田第一ビル102
